Diffractomètre

Le diffractomètre est un appareil servant à mesurer la diffraction d'un rayonnement sur une cible. Le terme est utilisé pour la diffractométrie de rayons X et la diffraction de neutrons.



Catégories :

Instrument de mesure - Radiocristallographie - Mesure physique - Métrologie

Page(s) en rapport avec ce sujet :

  • Le diffractomètre est un appareil servant à mesurer la diffraction d'une onde... de rayons X, d'un porte- échantillon et d'un film en forme de bande qui.... Une autre fente se trouve devant le détecteur, elle limite le volume (En... (source : techno-science)
  • ... dans la chambre d'enregistrer les rayons X diffractés par l'échantillon à étudier.... Dans le premier cas, le détecteur se déplace le long d'un axe... mesures avec ce dispositif ou d'un diffractomètre est quasiment le même.... (source : culture.gouv)

Le diffractomètre est un appareil servant à mesurer la diffraction d'un rayonnement sur une cible. Le terme est utilisé pour la diffractométrie de rayons X et la diffraction de neutrons.

Les premiers diffractomètres utilisaient une pellicule argentique qui était impressionnée par des rayons X. C'étaient quelquefois juste un tube, un porte-échantillon et un porte-film posés sur une table (les dangers des rayons X étaient sous-estimés à l'époque), quelquefois mis dans une «boîte». Il portait par conséquent le nom de «chambre», les Britanniques parlant de «camera».

Sources de rayonnement

Les rayonnements utilisés dans un diffractomètre ont une longueur d'onde de l'ordre de 10-10 m (1 Å), ce qui est du même ordre de grandeur que les distances interatomiques dans les matériaux solides.

Sources de rayons X

La première source de rayons X fut la désintégration radioactive. Cette source est toujours quelquefois utilisée en spectrométrie de fluorescence X, mais plus en diffraction.

En général, les rayons X sont produits par freinage des électrons. On utilise généralement des tubes à rayons X, systèmes de petite taille (environ 50 cm de long pour une dizaine de cm de diamètre, plus pour les tubes à anode tournante). Dans la majorité des cas, on modifie le spectre du tube pour s'approcher des conditions monochromatiques :

Les diffractomètres sont aussi positionnés dans des lignes de faisceau synchrotron. Le rayonnement synchrotron permet d'avoir des rayons X monochromatiques et idéalement collimatés, ce qui permet des mesures particulièrement précises. Cependant, un synchrotron est une installation de plusieurs centaines de mètres de diamètre et de coût de structure faramineux, ce qui réserve son utilisation aux cas vraiment nécessaires.

Sources de neutrons

Les neutrons peuvent être produits dans deux types de source :

Les neutrons obtenus sont ralentis dans de l'eau lourde afin d'atteindre une longueur d'onde de l'ordre de 10-10 m. Comme pour les rayons X, il est envisageable d'obtenir un faisceau monochromatique avec un monochromateur.

Chambre de Laue

Article détaillé : Méthode de Laue.

La chambre de Laue est le système le plus simple pour faire un cliché de diffraction, mais il n'est adapté qu'aux monocristaux.

Il consiste en une source de rayonnement (tube de rayons X, réacteur) émettant sur un spectre large (spectre polychromatique), un porte-échantillon, et un support de film photographique. Le film photographique est masqué par un papier pour ne pas être voilé par la lumière ; les rayonnements seuls traversent le papier et impressionnent le film.

Le cliché obtenu sert à déterminer les paramètres de maille du cristal mais aussi l'orientation du réseau comparé à la face analysée. Il est identique au cliché de diffraction obtenu en microscopie électronique en transmission.

Quand on veut faire des mesures plus précises, on utilise un diffractomètre pourvu d'un goniomètre à trois cercles permettant d'orienter le monocristal, le film étant remplacé par un détecteur à deux dimensions (type caméra CCD ou chambre à fils), voir plus bas. On peut ainsi acquérir plusieurs clichés de Laue de manière automatisée.

Chambre de Debye-Scherrer

La chambre de Debye-Scherrer est le système le plus simple servant à faire de la diffraction sur poudre ou sur échantillon polycristallin.

Il se compose d'une source monochromatique de rayonnement, d'un porte-échantillon et d'un film en forme de bande qui entoure le système. Le rayon incident est diffracté sous la forme de cônes, qui laissent des traces en forme de cercle sur la bande.

On voit quelquefois le terme «caméra de Debye-Scherrer», mais il semble que ce soit un anglicisme, il est en effet peu utilisé en français. Le terme est cependant correct sur le plan étymologique, le mot latin camera signifiant «chambre», et l'ressemblance avec la caméra de cinéma est pertinente (chambre noire permettant de impressionner un film photographique), quoique dans le cas de la chambre de Debye-Scherrer il n'y ait pas de mouvement.

Ce système est particulièrement simple et peu coûteux, mais s'il sert à localiser facilement la position des pics (rayon de l'arc de cercle sur la bande), la trace photographique rend peu précise l'estimation de l'intensité (niveau de gris) et la largeur du pic (largeur de l'arc).

Les autres sources d'incertitude sont :

Originellement, le dépouillement des données était fait manuellement, la position des arcs étant repérée avec une règle. La numérisation des films (avec un scanneur) permet un traitement informatique du diffractogramme.

On trouve aussi des chambres Debye-Scherrer où le film est remplacé par une série de détecteurs positionnés en arc de cercle autour de l'échantillon, offrant une résolution de l'ordre du centième de degré. Ce système permet une acquisition directe sur ordinateur, avec une mesure précise des intensités (nombre de coups reçus par chaque détecteur).

Ce système a été de fait presque toujours remplacé par un diffractomètre de poudre «mécanisé» (avec un détecteur ponctuel mobile monté sur un goniomètre à deux cercles). Ces diffractomètres à goniomètre sont prévus pour une géométrie Bragg-Brentano, mais ils peuvent être utilisés en géométrie Debye-Scherrer, par exemple quand on a peu de produit : la poudre est introduite dans un capillaire, on travaille avec un faisceau parallèle, et le détecteur fait le tour de l'échantillon.

Autres chambres

Chambre de Guinier
Chambre de Gandolfi
Chambre de Seeman-Bohlin

Diffractomètre de poudres

Un diffractomètre de poudres est un diffractomètre à bras mobiles. Les premiers modèles étaient mus par des manivelles, puis sont venus les bras motorisés ; les diffractomètres modernes sont entièrement automatisés et commandés par ordinateur.

Montage à deux cercles

Dans le cas général, l'appareil possède un goniomètre «à deux cercles», c'est-à-dire ne servant à faire fluctuer que deux angles : l'angle d'incidence du rayonnement sur l'échantillon γ, et l'angle de déviation 2θ. Ceci peut être réalisé par deux montages, dits «θ-2θ» (thêta-deux thêta) et «θ-θ» (thêta-thêta). Dans les deux cas, le détecteur est mobile, c'est sa position qui détermine la déviation 2θ ; la différence est dans la détermination de l'incidence γ :

Les diffractomètres de ce type sont les plus versatiles, on peut en effet faire fluctuer la géométrie et faire :

Géométrie Bragg-Brentano

La géométrie de Bragg-Brentano consiste à avoir une focalisation approchée du rayonnement incident (quelquefois nommée «parafocalisation», en anglais parafocussing).

Propriété géométrique du cercle justifiant la focalisation approchée

L'idée est d'éclairer l'échantillon avec un faisceau divergent, ce qui permet d'avoir plus d'intensité qu'avec un faisceau fin. Ce faisant, on introduit une erreur angulaire, le faisceau incident ne frappant pas l'échantillon avec le même angle. Ce défaut est corrigé de deux manières :

Comme c'est une méthode sur poudre, on travaille avec une source monochromatique et un détecteur ponctuel. On peut remplacer le détecteur ponctuel par un détecteur linéaire ou à deux dimensions, afin d'accélérer la mesure. Cependant, on n'est plus strictement en géométrie Bragg-Brentano, même si les résultats sont identiques.

Autres géométries

Les diffractomètres de poudre peuvent s'utiliser avec une autre géométrie que la géométrie de Bragg-Brentano.

Incidence rasante

Les mesures en incidence rasante se font à incidence γ fixe, et en faisant fluctuer 2θ. On fait généralement des mesures pour plusieurs valeurs de γ. Pour éviter que le faisceau incident passe par dessus l'échantillon et frappe directement le détecteur aux faibles angles, on utilise un faisceau fin et on peut placer un «couteau» (écran métallique) au-dessus de l'échantillon.

L'absorption du rayonnement dépend du trajet dans l'échantillon (loi de Beer-Lambert). Au-delà d'une certaine distance d parcourue, les rayons sont trop absorbés et ne contribuent presque pas au signal ; cette distance d choisie par convention est celle donnant 90 % du signal.

Le rayon incident parcourt une distance x1 valant e/sin (γ) pour atteindre une profondeur e, et une distance x2 valant e/sin (2θ-γ) pour ressortir et frapper le détecteur. La couche d'atomes localisée à une profondeur e contribue par conséquent de manière significative au signal seulement si x1 + x2 < d, soit

e \cdot \left ( \frac{1}{\sin \gamma} + \frac{1}{\sin (2\theta - \gamma)} \right ) < d.

Dans le cas d'un échantillon bicouche, l'angle d'incidence γ à partir duquel on peut détecter un pic du substrat sert à déterminer l'épaisseur de la couche localisée au-dessus.

Mesure en bercement

Les mesures en bercement ou en balancement (rocking curves en anglais), consistent à faire fluctuer l'angle d'incidence γ tout en désormais la déviation 2θ constante. À cause de la défocalisation, il faut travailler avec un faisceau fin. On fait généralement plusieurs mesures sur un intervalle de γ donné, mais en faisant fluctuer 2θ entre chaque mesure.

Ces mesures généralement sont utilisées pour déterminer l'orientation d'une couche épitaxiée ; par exemple, dans l'industrie des semi-conducteurs, on fait croître une couche cristalline sur un monocristal de silicium. On effectue des mesures pour une plage de 2θ couvrant un pic du substrat et un pic de la couche. Les deux pics sont maximaux pour des valeurs de γ différentes, et ceci donne la désorientation entre le substrat et la couche.

Faisceau parallèle

Une géométrie en faisceau parallèle sert à s'affranchir de la forme de l'échantillon. En effet, en faisceau divergent, la surface de l'échantillon doit être tangente au cercle de focalisation pour qu'on puisse faire l'hypothèse que l'ensemble des rayons frappant le détecteur subissent la même déviation. Si le faisceau est parallèle, alors la déviation ne dépend que de la direction du détecteur.

On utilise pour cela un dispositif diffractant courbé (ce n'est par conséquent pas à proprement parler un miroir), et dont la courbe est un arc de parabole. Le centre du tube (la ligne de l'anti-cathode sur laquelle se projettent les électrons) est positionnée au foyer de cette parabole. L'alignement du miroir est probablement l'opération qui conditionne le plus la qualité de la mesure.

Cette méthode a été développée par H. Göbel[1], le dispositif diffractant porte par conséquent le nom de «miroir de Göbel» (ou «miroir de Gœbel», voir l'article Umlaut).

Le miroir de Göbel n'est utile qu'avec un monochromateur arrière. Sinon, la technique ne présente aucun avantage.

Ce dispositif est par exemple utilisé quand on dispose d'extrêmement peu de matière. La poudre est introduite dans un capillaire (tube de verre particulièrement fin), et on réalise un balayage avec le détecteur (c'est en fait en quelque sorte la méthode de Debye-Scherrer mais avec un détecteur électronique au lieu d'un film photographique). Le faisceau parallèle peut aussi être utilisé pour une mesure sur une pièce non plane (courbe, rugueuse), voir pour une mesure non destructrice (on place une pièce entière, par exemple un objet d'art, dans l'appareil).

Le miroir est un multicouche de synthèse. La principale limitation de sa durée de vie est l'oxydation des couches, surtout par l'ozone que peut produire la haute tension des tubes à rayons X. Pour éviter ceci, les miroirs de Göbel sont sous atmosphère inerte, dans un boîtier pourvu de fenêtres transparentes aux rayons X.

Optique

Dans la configuration Bragg-Brentano, le faisceau incident a une divergence radiale, la configuration donnant la possibilité de la focalisation approchée. C'est par conséquent une bande rectangulaire de l'échantillon qui est éclairée. La divergence radiale est limitée par une fente rectangulaire localisée entre le tube et l'échantillon, nommée «fente primaire», «fente avant» ou «fente de divergence». Une autre fente se trouve devant le détecteur, elle limite le volume que «voit» le détecteur à l'unique zone irradiée de l'échantillon ; cette fente porte le nom de «fente secondaire», «fente arrière» ou «fente anti-diffusion». Ces fentes déterminent l'intensité qui atteint le détecteur mais aussi le bruit de fond.

Le faisceau incident a aussi une divergence axiale. On essaie généralement de limiter cette divergence axiale par des «fentes de Soller», quelquefois nommées «collimateurs» : il s'agit de lames de cuivre parallèles, qui absorbent les rayons qui ne sont pas parallèles aux lames. La divergence est limitée à quelques degrés (en général, entre 0, 1 et 5°). Plus la divergence est étroite, plus les pics de diffraction sont étroits, mais plus l'intensité est faible. Sans fente de Soller, on a des pics larges et dissymétriques.

Porte-échantillon

Dans le cas le plus simple, le porte-échantillon est une simple pièce passive soit fixe (montage θ-θ), soit motorisée (montage θ-2θ). Il permet généralement de faire tourner l'échantillon dans son plan (spinner)  ; en effet, comme seule une petite portion de l'échantillon est éclairée (un rectangle étroit), le fait de faire tourner l'échantillon sert à balayer un disque, le signal collecté représente par conséquent une plus grande surface d'échantillon. Ceci permet d'englober plus de cristallites, et par conséquent d'avoir une meilleure représentation statistique.

Le porte-échantillon peut aussi être un passeur : on charge plusieurs échantillons, et ceux-ci sont mesurés successivement, ce qui sert à mesurer plusieurs échantillons sans avoir besoin d'intervenir pour les changer (par exemple mesure de nuit). Occasionnellement, le passeur est différent du porte-échantillon, il amène l'échantillon au porte-échantillon ; on peut par exemple avoir une mesure automatisée avec un échantillon provenant d'une chaîne de production par une bande convoyeuse.

Montage à quatre cercles : porte-échantillon sur berceau d'Euler (goniomètre à trois cercles)

Pour certaines mesures, surtout de texture ou de contraintes, il est indispensable de faire fluctuer la position de l'échantillon sous le faisceau (le faisceau est alors ponctuel). On utilise pour cela un goniomètre à trois cercles ou «berceau d'Euler» :

À ceci se rajoute la position 2θ du détecteur, on parle par conséquent de «montage à quatre cercles».

Le porte-échantillon peut aussi faire fluctuer la position de l'échantillon selon les axes x, y et/ou z.

Détecteurs

Diffractomètre de monocristal

Photographie de goniomètre
voir une image agrandie

L'appareillage comporte un goniomètre pour manipuler le monocristal dans le faisceau incident sous l'ensemble des angles (montage à quatre cercles). La rotation du cristal dans le diffractomètre a pour but de générer une onde issue des plans réticulaires en phase avec l'onde incidente à ce même plan réticulaire.

Cette technique est généralement utilisée pour déterminer la structure cristalline.

La réception du signal

Elle se fait sur le CCD qui est une matrice de cellules qui captent l'information lumineuse sous forme de pixels et qui n'utilise pas de plaque photographique. Des photons isolés sont enregistrés électroniquement et répartis avec un microprocesseur le long d'une série de pixels qui, assemblés en rangées, forment alors une image qui peut être numériquement travaillée par ordinateur.

Voir aussi

Bibliographie

Liens externes

Référence

  1. DOI :Parallel-beam coupling into channel-cut monochromators using curved graded multilayers, M. Schuster et H. Göbel, J Phys D 28 (4A) (1995) A270-275

Recherche sur Amazon (livres) :



Principaux mots-clés de cette page : échantillon - détecteur - rayons - porte - faisceau - mesures - tube - diffractomètre - chambre - cercles - géométrie - montage - angles - film - sources - fente - rayonnement - systèmes - poudre - bragg - brentano - incidence - diffraction - conséquent - goniomètre - debye - scherrer - incident - pics - déviation -

Ce texte est issu de l'encyclopédie Wikipedia. Vous pouvez consulter sa version originale dans cette encyclopédie à l'adresse http://fr.wikipedia.org/wiki/Diffractom%C3%A8tre.
Voir la liste des contributeurs.
La version présentée ici à été extraite depuis cette source le 11/11/2010.
Ce texte est disponible sous les termes de la licence de documentation libre GNU (GFDL).
La liste des définitions proposées en tête de page est une sélection parmi les résultats obtenus à l'aide de la commande "define:" de Google.
Cette page fait partie du projet Wikibis.
Accueil Recherche Aller au contenuDébut page
ContactContact ImprimerImprimer liens d'évitement et raccourcis clavierAccessibilité
Aller au menu