Spectrométrie de fluorescence X en réflexion totale

La spectrométrie de fluorescence X en réflexion totale, ou TRXRF, est une méthode permettant d'analyser des quantités de matière particulièrement petite par spectrométrie de fluorescence X.



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Science des matériaux - Spectroscopie - Mesure physique - Métrologie

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Principe de la FX en réflexion totale

La spectrométrie de fluorescence X en réflexion totale, ou TRXRF (total reflection X-ray fluorescence spectrometry) , est une méthode permettant d'analyser des quantités de matière particulièrement petite par spectrométrie de fluorescence X. Elle consiste à diminuer le bruit de fond en déviant le faisceau incident vers un absorbeur, on ne voit ainsi plus l'effet Rayleigh ou Compton.

Comme l'échantillon est en couche mince, il n'y a pas d'effet de matrice : l'absorption et la fluorescence secondaire sont négligeables.

Préparation de l'échantillon

L'échantillon est déposé en couche mince sur un porte-échantillon, généralement en quartz poli ou en polyacrylique, qui se comporte comme un miroir de rayons X[1]. Cela se fait généralement en déposant une quantité donnée d'une solution à analyser. Pour l'analyse d'un solide ou d'un filtre, on peut dissoudre l'échantillon, ou bien le mettre en suspension dans le solvant. On peut aussi mettre une poudre ou un tranche mince directement sur le porte-échantillon, mais se pose alors le problème de la quantité de matière ; cette méthode «directe» est plus adaptée aux mesure qualitatives que quantitatives.

Notes

  1. à cause de leurs longueurs d'onde, les rayons X ne peuvent être réfléchis que sous incidence rasante, voir aussi les articles Focalisation (optique) > Télescopes à rayons X et Astronomie des rayons X

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